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Freitag, 22. Mai 2015, 18:17

Mittlere Eindringtiefe elektromagnetischer Strahlung bei Reflexionsmessung an einem Mehrschichtensystem

http://www.chemieonline.de/forum/showthread.php?t=225202)

Zitat

Abrissbirne88 21.05.2015 17:30

Wie tief geht Feld bei Reflexionsmessung?

Wenn ich eine Reflexionsmessung mittels Koaxialkabel an einem Material durchführe, wie tief geht das Feld dann in das Material? Wenn ich z.B. ein Material habe, das aus mehreren Schichten aufgebaut ist, woher weiß ich dann, ob die unteren Schichten auch noch Einfluss haben oder nicht?

Kann man das irgendwie simulieren, berechnen oder messen?


Berechnen kann man das schon. Nur ist hier zu beachten, dass alle Intensitätsveränderungen abhängig sind von der Frequenz der verwendeten elektromagnetischen Strahlung und der Absorptionswahrscheinlichkeit eben dieser Strahlung in den diversen Materialien des bestrahlten Mehrschichtensystems. Die dafür benötigten Werte muss man erst einmal haben.

Gruß FKS

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Donnerstag, 28. Mai 2015, 01:21

Durch mehrmalige Anwendung des folgenden Absorptionsgesetzes

\[ln \ \frac {I_0}{I_x} \ = \ \mu( \lambda, Stoff) \ \cdot \ x \]

kann man die Intensität einer Strahlung im Abstand x einer bei x = 0 beginnenden Schicht berechnen. Mit Io = Ix für x = 0 . Mehrfache Anwendung deswegen, weil man das Gesetz für jede Schicht einer Schichtfolge anzuwenden hat, wobei die Austrittsintensität der n - ten Schicht gleich ist der Eintrittsintensität der ( n + 1 ) ten Schicht gleich ist.
Natürlich muss man dazu die auch noch von der Wellenlänge abhängigen \[ Absorptionskoeffizienten \ \ \mu\ \ \ \] der einzelnen Schichtmaterialien kennen.

Gruß FKS

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